Probe card

Interface between an electronic test system and a semiconductor wafer

A probe card (commonly referred to as a DUT board) is used in automated integrated circuit testing. It is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer.

Nº Q7246919 ★

Commune · Savoirs

Probe card

Interface between an electronic test system and a semiconductor wafer

Texte en anglais

A probe card (commonly referred to as a DUT board) is used in automated integrated circuit testing. It is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer.

Dernier prix

—

Prix plancher

—

Médiane 7 j

—

Ventes 30 j

0

Fourchette 30 j

—

En circulation

0

Cours

Voir le tableau
Datemédiane MinMaxventes

Historique des ventes

Dernière vente
—
Moyenne 30 j
—
Plus bas 30 j
—
Plus haut 30 j
—
Ventes 7 j
0
Ventes 30 j
0

Aucune vente pour l'instant.

Ventes anonymes : ni acheteur ni vendeur. Les chiffres ne comptent que les ventes entre joueurs.

Sur Wikipédia

Texte en anglais Pas encore d'article dans ta langue : extrait en anglais.

A probe card (commonly referred to as a DUT board) is used in automated integrated circuit testing. It is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer.

Texte : Wikipédia en anglais, CC BY-SA 4.0. · Image : Ajoones (CC BY 3.0) ·

Cartes voisines

Voir la fiche

Confirmation