Joint Test Action Group

Nº Q545306 ★★

Incomum · Literatura

Joint Test Action Group

Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados. Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes.

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Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados. Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes. JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração. A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console.

Texto: Wikipédia, CC BY-SA 4.0. · Imagem: User Mike1024 on en.wikipedia (Public domain) ·

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